FLUEK光纖損耗認(rèn)證測(cè)試指南

　　有很多朋友對(duì)于福祿克光纖損耗測(cè)試很畏懼，不知如何下手。今天我們淺談一下其使用指南。

　　光纖損耗測(cè)試不同于雙絞線(xiàn)測(cè)試。雙絞線(xiàn)不要設(shè)置基準(zhǔn)，到手后第一時(shí)間就可以進(jìn)行網(wǎng)線(xiàn)認(rèn)證測(cè)試，只是看下測(cè)試結(jié)果是pass還是fail即可。

　　但是光纖認(rèn)證測(cè)試，需要一下幾個(gè)注意試下：

　　1，設(shè)置測(cè)試模型：環(huán)路、遠(yuǎn)端信號(hào)源和智能遠(yuǎn)端3種測(cè)試模塊。

　　正常使用過(guò)程中，我們會(huì)使用環(huán)路模式來(lái)判定尾纖的質(zhì)量是否可靠，測(cè)試指標(biāo)是否ok。智能遠(yuǎn)端模式即用來(lái)正式的測(cè)試雙芯測(cè)試，并做出判定結(jié)果。

　　2，轉(zhuǎn)換器個(gè)數(shù)和熔接點(diǎn)個(gè)數(shù)設(shè)置，設(shè)置數(shù)量的多少意味介入整條光鏈路的損耗補(bǔ)償量的多少.建議按實(shí)際聯(lián)接來(lái)設(shè)置，除非臨界值徘徊，可以適當(dāng)增加補(bǔ)償量。

　　3，準(zhǔn)備工業(yè)無(wú)水酒精和清洗棉球，經(jīng)常擦拭端子接口。減少誤判。

　　4，如果整條鏈路fail，我們心里要有一個(gè)概念，問(wèn)題點(diǎn)大概以下幾個(gè)點(diǎn)：a，兩端端子有灰塵，不干凈；b，熔接點(diǎn)，是否熔接機(jī)故障導(dǎo)致或者沒(méi)有熔好；c，整條被測(cè)光纖鏈路是否順直，不要有小角度的折彎，或者應(yīng)力作用導(dǎo)致的變形。

　　只要是我們注意到以上幾點(diǎn)，在進(jìn)行光鏈路測(cè)試的時(shí)候，就不會(huì)出現(xiàn)任何問(wèn)題了。